美国CRAIC发布的最新20/30PV显微光谱分析集成系统为紫外-可见-近红外显微光谱学设定了一个新的标准。使用最前沿技术的20/30 PV不仅可以让用户测试微米级样品的吸收、反射、拉曼、荧光激发或其他光源类型下的光谱，还同时提供了数字成像功能。美国CRAIC 20/30 显微分光光度计系统，结合了显微学和光谱学的优势，用于微小样品或样品的微小区域的光谱分析；微区光谱测试的范围从深紫外到近红外，同时也提供全波段的成像。具备先进的光谱及图像分析软件、自动化的参数设置、简单易用、能长时间稳定工作等优良特性。20/30 PV是微区科研以及实验室样品分析的完美工具。

  最新CRAIC 20/30 PV集成了紫外－可见－近红外光谱仪、拉曼光谱仪、成像系统于一身，根据产品不同，可以做紫外可见近红外（200-2500nm）的光谱分析，还可以集成显微Raman系统，同时科研级光谱仪和高分辨彩色数字成像系统都使用了最新的显微镜光路系统及科研级光学接口。

  高灵敏度的固态阵列检测器件使用了热电制冷的方式提高了器件的信噪比，增强稳定性,并保证设备能长时间稳定地工作；高分辨率的数字成像系统在用于紫外、近红外以及可见光波段的彩色成像。多种类型的光源包提供了从深紫外到近红外的光源，类型包括透射光、反射光、荧光等，偏振光和拉曼激光也可以根据用户需求提供。CRAIC精巧的软件不仅可以控制显微镜、光谱仪和数字成像系统，还同时提供了先进分析功能，甚至包括薄膜厚度测量及色度测量。CRAIC公司推出最新的操作系统，应用软件使用简单，操作方便。

  20/30PV系列为显微观测、材料科学、地质科学、生物科学及制药、表面等离子共振，法医痕迹鉴证，石墨烯及纳米管等领域提供完美的显微光谱分析方案，20/30 PV是显微分光光度计最顶尖的代表。

主要技术参数

微区光谱范围：200-2500nm

取样面积：≤1um2

荧光光谱范围：300-1000nm

高分辨率成像：深紫外-近红外

光谱分辨率：1-15nm(可选）

探测器类型：CCD和InGaAs阵列

制冷;TE制冷

全谱扫描时间：≤4ms

可编程平台带光谱绘图：可实现

全自动控制：可实现

操作系统：Win7 Pro或Win 8